美國(guó)APT開爾文探針：適用于四線法測(cè)試 ，以減小線阻和接觸電阻對(duì)測(cè)試的影響 ，保證小電阻的測(cè)試準(zhǔn)確性。另外 ，一些高頻測(cè)試 ，比如150M左右 ，也可以采用這個(gè)。

美國(guó)GGB探針： ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。 該探針可以選擇表面鍍鎳， 如果選擇 鍍鎳則型號(hào)后面增加 “NP”。

QRUI-5系列探針臺(tái)：研發(fā)的一款在特殊環(huán)境下給樣品加載電學(xué)信號(hào)的設(shè)備。可以實(shí)現(xiàn)器件及材料表征的IV/CV特性測(cè)試，射頻測(cè)試 ，光電測(cè)試等。通過(guò)液氮或者壓縮機(jī)制冷 ，可以在防輻射屏內(nèi)營(yíng)造一個(gè)穩(wěn)定的測(cè)試環(huán)境。

QRUI-1A系列探針臺(tái)：是一款在非真空條件下實(shí)現(xiàn)高低溫環(huán)境的測(cè)試探針臺(tái)。該產(chǎn)品采用氣冷制冷 ，自動(dòng)控溫 ，設(shè)備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室 ，一方面可以屏蔽無(wú)線電磁干擾 ，另外一方面也可以保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無(wú)結(jié)霜。該產(chǎn)品多數(shù)用于相關(guān)單位實(shí)驗(yàn)室。

QRUI-3 系列探針臺(tái)：一款高配置綜合型手動(dòng)測(cè)試探針臺(tái), 該系列探針臺(tái)設(shè)備配置豐富 ，基本可以滿足一般實(shí)驗(yàn)室的全部測(cè)試要求。